探針臺
Probe Stations
低維材料
2D Material Transfer Platform
光電測試系統(tǒng)
Optoelectronic test system
光學(xué)平臺與光學(xué)面包板
Optical platform and breadboard
光波導(dǎo)耦合系統(tǒng)
Optical waveguide coupling system
光源
Light Source
OCT 成像系統(tǒng)
OCT Imaging System
光電探測與分析
Beam Measurement and Control
顯微觀察
Microscopic observation
運動控制
Motion Control
教學(xué)/科研光路系統(tǒng)
Scientific optical path system
微納材料表征測試服務(wù)
Other equipment and software
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緊湊設(shè)計,標(biāo)配支架,衰減,使用方便;
光斑直徑測量范圍:22μm-22mm;
兼容脈沖和連續(xù)激光測量;
波長范圍:190-1350nm(可選);
適用于全固態(tài)激光、光纖激光以及半導(dǎo)體激光等光源測量;
波長范圍:350-2100nm(可選);
光斑直徑測量范圍:50μm-15mm(可選);
兼容測量連續(xù)以及脈沖激光器;
最大功率測量至1W;
用于測量激光光束的光斑大小、光斑強度分布、橢圓度,實時監(jiān)測光束形狀以及穩(wěn)定性等;
測量波段:400~1100nm(可選);
最小可測聚焦光斑直徑:1μm;
主要由傳感器、對焦平臺、物鏡、衰減系統(tǒng)組成;
二維和三維空間光束強度分布分析;
波長(190~1700nm)可根據(jù)客戶需求定制;
波長范圍:340-1100nm;
檢測精度:≤5%;
操作簡單、快速一鍵式測量;
內(nèi)置衰減器調(diào)節(jié)方式:電動轉(zhuǎn)盤(6 孔位)+手動插槽(2 插槽位);
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