探針臺(tái)
Probe Stations
PLCTS 光譜響應(yīng)測(cè)試探針臺(tái)是一種專門用于測(cè)試材料光譜響應(yīng)的設(shè)備。這種探針臺(tái)結(jié)合了光譜掃描、光電流掃描以及光響應(yīng)速率測(cè)試等功能,可以對(duì)材料進(jìn)行全面的光學(xué)性能測(cè)試。 PLCTS光譜響應(yīng)測(cè)試探針臺(tái)是一種專門用于測(cè)試材料光譜響應(yīng)的設(shè)備。這種探針臺(tái)結(jié)合了光譜掃描、光電流掃描以及光響應(yīng)速率測(cè)試等功能,可以對(duì)材料進(jìn)行全面的光學(xué)性能測(cè)試。在光譜響應(yīng)測(cè)試中,探針臺(tái)通過精確控制光源和探測(cè)器,測(cè)量材料在不同波長(zhǎng)光照射下的響應(yīng)情況。通過測(cè)量光譜響應(yīng)度、量子效率等參數(shù),可以了解材料對(duì)不同波長(zhǎng)光的吸收、反射和透射特性,進(jìn)而評(píng)估其光學(xué)性能和應(yīng)用潛力。
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樣品臺(tái)行程
XY110mm,Z10mm,360°粗調(diào),±5°精調(diào) |
樣品臺(tái)位移精度
3μm |
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探針座行程
XYZ13mm |
探針座調(diào)節(jié)精度
3μm |
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固定方式
環(huán)形真空吸附 |
探針座數(shù)量
標(biāo)配2個(gè) |



PLCTS 光譜響應(yīng)測(cè)試探針臺(tái)具有高精度、高穩(wěn)定性和豐富的光源選擇等特點(diǎn)。它采用多層光學(xué)光路設(shè)計(jì),可擴(kuò)展多路光源,滿足不同探測(cè)器測(cè)試功能的要求。同時(shí),探針臺(tái)還具備長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)測(cè)試的能力,確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。