探針臺
Probe Stations
低維材料
2D Material Transfer Platform
光電測試系統(tǒng)
Optoelectronic test system
光學(xué)平臺與光學(xué)面包板
Optical platform and breadboard
光波導(dǎo)耦合系統(tǒng)
Optical waveguide coupling system
光源
Light Source
OCT 成像系統(tǒng)
OCT Imaging System
光電探測與分析
Beam Measurement and Control
顯微觀察
Microscopic observation
運(yùn)動(dòng)控制
Motion Control
教學(xué)/科研光路系統(tǒng)
Scientific optical path system
微納材料表征測試服務(wù)
Other equipment and software
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滿足1um以上電極/PAD使用;
探針臺整體位移精度高達(dá)3μm,樣品臺四維精密調(diào)節(jié);
探針座采用進(jìn)口交叉滾柱導(dǎo)軌,無回程差設(shè)計(jì);
顯微鏡增加XY50mm顯微成像移動(dòng)功能;
弧形探針架設(shè)計(jì),可放置 6個(gè)DC 探針座/4個(gè)RF探針座;
漏電精度:100fA(屏蔽箱內(nèi));
應(yīng)用于:MEMS測試、芯片測試、晶圓測試、測試光電器件的電學(xué)性能和光學(xué)性能等;
顯微鏡增加XY精密移動(dòng)功能,位移精度:3μm;
雙目鏡SWH10X/25mm;0.65倍CTV,明場長軸照明器;
預(yù)留濾光及偏光插槽,帶光闌調(diào)節(jié)通光量及視野大?。?/p>
選用95mm大視場平場復(fù)消色差長焦物鏡;
激光顯微鏡,5檔物鏡轉(zhuǎn)盤,可引入激光完成光電流測試;
高清2000W相機(jī)成像相機(jī),1920*1080;
左側(cè)為相機(jī)接口,兼容 CCD 以及 CMOS 相機(jī);
中間為光源耦合接口、右側(cè)為LED照明光源接口;
配置5X、10X、20X、50X物鏡(其他可選);
整體位移分辨率3μm,樣品臺XYZR四維調(diào)節(jié);
應(yīng)用于:科研 IPCE,光致發(fā)光,光電流等光電測試;
結(jié)構(gòu)緊湊,功能實(shí)用,高性價(jià)比;
漏電精度:10pA(屏蔽箱內(nèi))
探針臺整體位移精度高達(dá)10μm,樣品臺四維精密調(diào)節(jié);
精密燕尾傳動(dòng)機(jī)構(gòu),線性移動(dòng),無回程差設(shè)計(jì);
應(yīng)用于:半導(dǎo)體、MEMS(微機(jī)電系統(tǒng))、超導(dǎo)、鐵電子學(xué)、材料科學(xué)以及物理和光學(xué)等領(lǐng)域;
整體一體化設(shè)計(jì),集成度高,功能實(shí)用;
U型探針架,可以放置4個(gè)探針座;
漏電流精度:10pA/100fA(屏蔽箱內(nèi));
精密燕尾槽,線性移動(dòng),無回程差設(shè)計(jì);
應(yīng)用于:功率器件測試、MEMS測試、太陽能電池片測試、材料表面電阻率測試等;
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